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產(chǎn)品特點
• 高分辨力型Z1軸檢出器作為標(biāo)準(zhǔn)件提供。Z1軸的顯示分辨力為0.0001μm(測量范圍為8μm時)。
• X軸內(nèi)置高精度玻璃光柵尺,直接讀取X軸移動距離,在高精度精準(zhǔn)定位下,完成間距參數(shù)的評價。
• 檢出器測力有4mN和0.75mN可選。
• Z1軸(檢出器)上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡,以實現(xiàn)高精度和高分辨力。與傳統(tǒng)型號相比,新測臂使Z1軸測量范圍增大了10mm 同時減少了工件的干擾。測臂安裝部采用了磁性鏈接件,單此接觸就能完成測臂的裝卸,提高了易用性。 • 專為SV-C-4500系列增加了以下兩大特性作為輪廓測量系統(tǒng)的專用功能。
裝配雙錐面測針,實現(xiàn)垂直方向(上/下)連續(xù)測量,所獲取的數(shù)據(jù)實現(xiàn)簡單分析以往難以測量的內(nèi)螺紋有效直徑。測力可在FORMTRACEPAK軟件中設(shè)置。無需調(diào)整配重。
•卓越的表面粗糙度/輪廓FORMTRACEPAK分析程序,通過簡單的操作就能進(jìn)行高級分析并即刻輸出結(jié)果。
• 表面粗糙度測試儀和輪廓測量儀結(jié)合在一起,節(jié)省安裝空間。
• 測臂安裝為一鍵式裝卸 (此項權(quán)在日本受理中)
測臂安裝部采用了磁性連接件,實現(xiàn)了快速更換。此外,裝卸部內(nèi)置了安全結(jié)構(gòu)。 •繁瑣的校正也可以上下兩面連續(xù)一次性完成(此項權(quán)在日本受理中)
SV-C4500 系列使用校正規(guī)(標(biāo)配附件),通過改進(jìn)使得上下兩方附帶從動件的上下圓錐測針能簡便易行地進(jìn)行校正。Z1 軸增益、對稱性、探針半徑等繁瑣的校正工作一次便可完成。
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